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當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心電阻率測(cè)量?jī)xFTDZS-I-粉末四探針電阻率

  • FTDZS-I新款GEST系列四探針方塊粉末電阻測(cè)試儀

    新款GEST系列四探針方塊粉末電阻測(cè)試儀由主機(jī)、測(cè)試架兩大部分組成。主機(jī)包括高靈敏的直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定的直流恒流源測(cè)量試驗(yàn)設(shè)置通過觸摸屏進(jìn)行操作和設(shè)置,頁面布局合理,人性化設(shè)計(jì),可對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行打印。儀器具有測(cè)量精度高、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn),*符合和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的要求。儀器適用于導(dǎo)體粉末、半導(dǎo)體粉末、炭素材料等行業(yè),進(jìn)行檢測(cè)*測(cè)試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2025-01-03
    產(chǎn)品型號(hào):FTDZS-I
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  • FTDZS-IFTDZS四探針粉末電阻率測(cè)試儀

    FTDZS四探針粉末電阻率測(cè)試儀主要用于測(cè)量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專用儀器. 由于粉末材料的密實(shí)度不同,在松裝和振實(shí)密度條件下,所測(cè)試得到的數(shù)據(jù)是不同的,所以測(cè)試粉末電 阻,要求在規(guī)定的壓力條件下進(jìn)行測(cè)試.便于進(jìn)行有效數(shù)據(jù)的測(cè)試及對(duì)比.

    更新時(shí)間:2025-01-03
    產(chǎn)品型號(hào):FTDZS-I
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  • FTDZS-I新四探針半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀

    新四探針半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀主要用于測(cè)量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專用儀器. 由于粉末材料的密實(shí)度不同,在松裝和振實(shí)密度條件下,所測(cè)試得到的數(shù)據(jù)是不同的,所以測(cè)試粉末電 阻,要求在規(guī)定的壓力條件下進(jìn)行測(cè)試.便于進(jìn)行有效數(shù)據(jù)的測(cè)試及對(duì)比.

    更新時(shí)間:2025-01-03
    產(chǎn)品型號(hào):FTDZS-I
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  • FTDZS-IFTDZS雙四探針粉末電阻測(cè)試儀

    FTDZS雙四探針粉末電阻測(cè)試儀主要用于測(cè)量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專用儀器. 由于粉末材料的密實(shí)度不同,在松裝和振實(shí)密度條件下,所測(cè)試得到的數(shù)據(jù)是不同的,所以測(cè)試粉末電 阻,要求在規(guī)定的壓力條件下進(jìn)行測(cè)試.便于進(jìn)行有效數(shù)據(jù)的測(cè)試及對(duì)比.

    更新時(shí)間:2025-01-03
    產(chǎn)品型號(hào):FTDZS-I
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  • FTDZS-IFTDZS四探針法粉末電阻率測(cè)試儀

    FTDZS四探針法粉末電阻率測(cè)試儀主要用于測(cè)量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專用儀器. 由于粉末材料的密實(shí)度不同,在松裝和振實(shí)密度條件下,所測(cè)試得到的數(shù)據(jù)是不同的,所以測(cè)試粉末電 阻,要求在規(guī)定的壓力條件下進(jìn)行測(cè)試.便于進(jìn)行有效數(shù)據(jù)的測(cè)試及對(duì)比.

    更新時(shí)間:2025-01-02
    產(chǎn)品型號(hào):FTDZS-I
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